該NanoScan狹縫掃描式(shi)光(guang)束輪廓(kuo)分析(xi)儀通過其硅探測(ce)器(qi)，準確捕(bu)獲和(he)分析(xi)190nm - 1100nm的(de)波長。該分析(xi)儀包括適合于(yu)小光(guang)束的(de)狹縫尺寸、近實時數(shu)據捕(bu)獲率(lv)、可選的(de)功率(lv)測(ce)量功能等特(te)征，且可在(zai)連(lian)續或kHz脈沖模(mo)式(shi)下工作，非(fei)常適合于(yu)對UV、VIS和(he)NIR激光(guang)進(jin)行分析(xi)。

• 位置和光束大小達到亞微米級精度
• 易于使用的集成軟件包
• 一個軟件包中包含單個和多個光束分析標準
• 可軟件控制的掃描速度（更新率）
• 采用峰值-連接算法用于脈沖光束測量
• USB2或PCI接口和數字探頭控制
• 12位數字化信號
• 采用ActiveX自動化與其他軟件包通信
• 可選硅和鍺掃描頭的功率計
• 可提供硅、鍺和熱釋電探測器

產地：美國

傳(chuan)感(gan)器(qi)類型(xing)：Silicon

光譜范圍(wei)：190-1100 nm

狹縫尺寸：1.8 µm

孔徑尺寸：3.5 mm

光(guang)束尺(chi)寸：7 µm - 2.3 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率(lv)范圍：10 nW - 10 W

通信(xin)：USB 2.0

軟(ruan)件(jian)：NanoScan Standard

兼容的(de)光源：CW, Pulsed >25 kHz