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KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042

  • 品  牌:KARL DEUTSCH
  • 型  號:LEPTOSKOP 2042
  • 技術資料:
  • 閱讀次數(shu):5620

產品介紹

大型(xing)圖形顯示(shi)48毫(hao)(hao)米×24毫(hao)(hao)米,帶照明(ming)

校準選項:

出(chu)廠前校(xiao)準,立(li)刻(ke)準備測(ce)量

校準未知涂層

零點校準

未涂覆基材之一,多箔校準

涂層材料校準

校準數(shu)據(ju)可(ke)以(yi)單獨存(cun)儲在單獨的校準文件(jian),并可(ke)以(yi)重新(xin)裝載

可選(xuan)的顯示模式,以獲得適應測量任務

輸入和監控限制

Windows下(xia)讀數存儲,方便文件(jian)管理

可(ke)用(yong)的PC軟(ruan)件(jian)EasyExport和ICOM

多達999個讀(du)數統計評估

最小值(zhi),最大值(zhi),平均值(zhi),讀(du)數,標準差,監測極限

局(ju)部厚度和平均(jun)涂層厚度(DINEN ISO2808)

在線統計,所(suo)有統計值(zhi)一(yi)目了然

產品可配KARL DEUTSCH探頭

KARL DEUTSCH(卡爾德(de)意(yi)志(zhi))自(zi)1949公司成立以來,一(yi)直致(zhi)力于研發和(he)生產無損檢測(ce)儀器和(he)設備,是個(ge)傳統的家族企業。產品包括便(bian)攜式儀器,臺式儀器, 探頭(tou)和(he)滲透(tou)(tou)裂紋(wen)檢測(ce)劑。典型的檢測(ce)任務是超聲波焊縫(feng)檢測(ce),鑄件缺陷檢驗,用磁(ci)粉或(huo)滲透(tou)(tou)方法對(dui)鍛件裂紋(wen)檢測(ce),軌道交通和(he)航空安全系統中的部件檢測(ce),以及(ji)壁厚和(he)涂(tu)層厚度測(ce)量(liang)。

詳細(xi)參數

串(chuan)行接口:將數據傳輸到RS232或(huo)USB

電(dian)源:通過電(dian)池,USB或電(dian)源裝置

測量范圍:0 -20000微米(取決(jue)于探頭)

測量速率:高達每秒2讀數

存儲:最(zui)大9999,讀數高達140文件

測量不確(que)定度(校準后(hou))

涂層厚度<100微米:讀數+/-1微米的1%

涂層厚度>100微米:讀(du)數+/-1微米的1..3%

涂層厚(hou)度>1000微(wei)米:讀(du)數(shu)+/-10微(wei)米的3..5%

涂層厚(hou)度> 10000微米:讀數+/- 100微米的5%


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