多(duo)種多(duo)樣(yang)的(de)外部探(tan)頭使得(de)LEPTOSKOP 2042在復雜的(de)幾何形狀的(de)涂層測量(liang)和(he)困難(nan)的(de)試驗條件下(xia)的(de)測量(liang)更(geng)加靈活(huo)。高達20毫(hao)米的(de)涂層厚度也是可(ke)能的(de)。根據要求(qiu),KARL DEUTSCH可(ke)提供特別定制的(de)探(tan)頭。
KARL DEUTSCH(卡爾德意志)自1949公司成立(li)以(yi)來,一直(zhi)致力(li)于(yu)研發和(he)生產(chan)無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)儀器(qi)和(he)設備,是(shi)個傳統的家族企業。產(chan)品包括便攜式儀器(qi),臺(tai)式儀器(qi), 探頭和(he)滲透(tou)裂紋(wen)檢(jian)測(ce)劑。典型的檢(jian)測(ce)任務(wu)是(shi)超聲波焊縫檢(jian)測(ce),鑄件(jian)缺陷(xian)檢(jian)驗,用磁粉或(huo)滲透(tou)方(fang)法(fa)對鍛件(jian)裂紋(wen)檢(jian)測(ce),軌道交通和(he)航空安全(quan)系統中的部件(jian)檢(jian)測(ce),以(yi)及壁厚和(he)涂(tu)層厚度(du)測(ce)量。
其它探頭型號
2442.100探頭(tou)Fe 0°,測量范圍0 - 5000μm
2442.110探(tan)頭Fe 90°,測(ce)量范圍0 - 5000μm
2442.120探頭鐵秒0°,測(ce)量范圍500 -20000μm
2442.130探頭NFe 0°,測量范圍0 - 1000μm
2442.140探(tan)頭NFe S 0°,測量范圍0 -3750μm
2442.200雙極探(tan)頭Fe,測量范圍為0.5 -12.5μm
2442.300微探針Fe 0°,測量范圍0 - 500μm
2442.310微(wei)型探頭NFe 0°,測量(liang)范(fan)圍0 - 500μm
2442.320微型(xing)探頭Fe 45°,測量范圍0 - 500μm
2442.330微型探頭(tou)NFe 45°,測量范圍0 - 500μm
2442.340微型探頭Fe 90°,測量范圍0 - 500μm
2442.350微型探頭NFe 0°,測量(liang)范(fan)圍(wei)0 - 500μm
2442.410結合探測鐵NFe 0°,測量范圍(wei):Fe 0 -3000μm,NFe 0 - 1,250μm
2632.002 2米擴展插頭(tou)線(xian),用于LEPTOSKOP 2042