在(zai)生成時進(jin)行測試的引(yin)導式程序集(ji)。將多個(ge) Cirris CR 測試儀連接(jie)(jie)在(zai)一起，用(yong)于具有數千個(ge)點(dian)的復(fu)雜組件。該系統支持引(yin)導式裝(zhuang)配(pei)，包(bao)括(kuo)屏幕上的連接(jie)(jie)器圖(tu)像，包(bao)括(kuo)正確腔(qiang)體(ti)位置、裝(zhuang)配(pei)板上的引(yin)導 LED 以及即時圖(tu)形和聲音(yin)反饋，以便在(zai)錯誤發生時捕獲錯誤。

• 多達 32，000 個測試點（256 點/盒）
• 基本單元重量小于 3 磅
• “菊花鏈”架構減少了接口布線的長度和復雜性
• 用戶可選的通過/失敗電阻閾值范圍為 0.1 Ω 至 500 kΩ。
• 多種測試模式

• 測試點
• 256分;可擴展到 32，000 點，增量為 256 點。（距基本設備最遠距離：200 英尺。
• 低壓測試
• 2 線
• 電壓：最大 10 V
• 電流：1.6 μA 至 6 mA
• 線電阻：0.1 Ω 至 100 Ω ±3% ±0.1 Ω
• 4 線
• 電壓：最大 10 V
• 電流：1.6 μA 至 6 mA
• 線電阻：0.005 Ω 至 80 Ω ±2% ±0.005 Ω