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OLYMPUSX射線衍射儀BTX Profiler

  • 品  牌:OLYMPUS
  • 型(xing)  號(hao):BTX Profiler
  • 技術資料:
  • 閱讀次數:7828

產品介紹

用XRD和XRF組合技術對材料進行全面分析

  • 利用2維傳輸XRD技術進行礦物學-結晶相分析
  • 使用能量色散XRF技術進行元素分析
  • 數據與結果的整合天衣無縫
  • 節省了操作成本、空間和時間

BTX Profiler所使用(yong)的(de)(de)(de)創(chuang)新型XRD技(ji)(ji)術(shu)是美國國家航(hang)空航(hang)天局(ju)成(cheng)功的(de)(de)(de)火星(xing)科學實驗室項目中的(de)(de)(de)“好奇”號漫(man)游者曾經使用(yong)過的(de)(de)(de)技(ji)(ji)術(shu)。它所采用(yong)的(de)(de)(de)另一種技(ji)(ji)術(shu)是Olympus的(de)(de)(de)X射線分析儀所使用(yong)的(de)(de)(de)廣受贊譽(yu)、優質(zhi)實用(yong)的(de)(de)(de)XRF技(ji)(ji)術(shu)。

詳(xiang)細參數

BTX Profiler的技術規格

  用于單個樣品分析的BTX Profiler 用于多個樣品分析的BTX Profiler
XRD的技術規格    
XRD范圍 5-55度 2θ 5-55度 2θ
XRD分辨率 0.25度 2θ 0.25度 2θ
XRD探測器類型 1024 × 256像素2維Peltier致冷CCD 1024 × 256像素2維Peltier致冷CCD
樣件顆粒大小 <150 μm碾壓粉末(100目篩) <150 μm碾壓粉末(100目篩)
其它樣品類型 凝膠、潤滑脂 凝膠、潤滑脂
樣品量 ~ 0.5 g ~ 0.5 g
X射線目標材料 銅(鈷為可選項) 銅(鈷為可選項)
X射線管電壓 30 kV 30 kV
X射線管最大電流 330 μA 330 μA
XRF的技術規格    
XRF探測器 大區域硅漂移探測器 大區域硅漂移探測器
X射線目標材料
X射線管幾何形狀 發射目標端窗口 發射目標端窗口
X射線管電壓 40 kV 40 kV
X射線管最大電流 200 μA 200 μA
輕元素分析 氦沖,大約0.25 l/min 氦沖,大約0.25 l/min
主要過濾器 可配置7個位置 可配置7個位置
樣品量 ~2 g ~2 g
     
工作溫度 -10 °C~35°C -10 °C~35°C
重量 23.13 kg / 單樣品儀器 32.66 kg / 帶20個位置自動進樣機的儀器
外型尺寸 49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 單樣品儀器 67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 帶20個位置自動進樣機的儀器

BTX Profiler的技術規格

XRD分辨率 0.25o 2? FWHM
XRD范圍 5 - 55o 2?
探測器類型 1024 x 256像素;2維Peltier致冷CCD
XRF能量分辨率 200eV,5.9 keV
XRF能量范圍 3到25 keV
樣件顆粒大小 <150 μm 碾壓礦物質(100目篩,150 μm)
樣品量 ~ 15 mg
X射線目標材料 鈷或銅(鈷為可選項)
X射線管電壓 30 kV
X射線管功率 10 W
數據存儲 40 Gb - 堅固耐用的內部硬盤驅動器
無線連接 802.11 b/g,從網絡瀏覽器進行遙控
工作溫度 -10oC到35oC
重量 12.5 kg

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