Hexagon Metrology高性能三維掃描探測系統LSP-X1
- 品 牌(pai)：Hexagon Metrology
- 型 號：LSP-X1
- 技術資料：
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產品介(jie)紹
新型(xing)的(de)(de)LSP-X1 掃描(miao)測頭(tou)，既能夠(gou)提供高(gao)精度測頭(tou)的(de)(de)精密計量工具，又能夠(gou)和TESASTAR-m 自(zi)(zi)(zi)動(dong)分度測座完(wan)美匹(pi)配。點(dian)到點(dian)和連續掃描(miao)兩種模式都(dou)能夠(gou)全(quan)面兼(jian)容，是中(zhong)等尺寸的(de)(de)楞(leng)邊復雜(za)型(xing)和曲面復雜(za)型(xing)工件(jian)的(de)(de)理想檢測方案。LSP-X1具有兩種吸盤，并且可(ke)以支(zhi)持長達220mm 以內的(de)(de)各種探針。吸盤的(de)(de)自(zi)(zi)(zi)動(dong)更換(huan)(huan)可(ke)以通過TESASTAR-r 自(zi)(zi)(zi)動(dong)更換(huan)(huan)架(jia)實(shi)現，也可(ke)以通過專門的(de)(de)支(zhi)架(jia)僅(jin)僅(jin)更換(huan)(huan)探針。這種磁吸測頭(tou)系統能夠(gou)快速和高(gao)重復性(xing)的(de)(de)完(wan)成更換(huan)(huan)。
詳細參數
- 超長探(tan)針(zhen)
允許探測工件內部的深孔等特征。包括自動重量平衡系統。
- 自動(dong)探針(zhen)更換功能
在測量過程中執行自動探針更換，而不需要重新校準。探針的磁力吸盤保證了快速而精確的更換。
- 具備碰撞保護功能
在發生誤碰撞的情況下保護測座。使得測量系統的工作時間達到最大化，并降低了擁有成本。
接觸工件表面時，測(ce)頭會自動沿(yan)著工件表面的(de)(de)法矢(shi)量(liang)進行測(ce)量(liang)。通過線性(xing)可變微分傳感器(LVDT)探測(ce)偏差，即(ji)使使用長的(de)(de)加長桿，也可以(yi)對探針的(de)(de)彎曲(qu)進行準(zhun)確補償。這(zhe)一特(te)性(xing)減少了余(yu)弦誤(wu)差，確保了更高的(de)(de)測(ce)量(liang)精度和效率，這(zhe)對檢測(ce)復雜幾何(he)體如齒輪、轉子和葉片等(deng)是至關重(zhong)要的(de)(de)。
