Andor 的(de)(de) PV Inspector NIR 相(xiang)機旨(zhi)在為在線電(dian)致(zhi)發(fa)光(guang)和(he)光(guang)致(zhi)發(fa)光(guang)檢(jian)測提(ti)(ti)供超快的(de)(de)速(su)度(du)和(he)靈敏(min)度(du)性能(neng)，在 800 nm 以上提(ti)(ti)供 > 90% 的(de)(de) QE，并結合了邊緣抑制(zhi)技術，以大限度(du)地(di)減少 NIR 中的(de)(de)邊緣效應。1024 x 1024 陣(zhen)列擁有高(gao)分(fen)辨率 13 μm 像素，并受益于(yu)可忽略不(bu)計的(de)(de)暗電(dian)流和(he)低至 -70°C 的(de)(de)熱電(dian)冷卻。PV Inspector 通過高(gao)達 5 MHz 的(de)(de)快速(su)讀出速(su)度(du)提(ti)(ti)供高(gao)的(de)(de)吞吐(tu)量，并結合獨特(te)的(de)(de)“雙曝(pu)(pu)光(guang)環模(mo)式”，允許快速(su)曝(pu)(pu)光(guang)切(qie)換。可鎖(suo)定的(de)(de) USB 2.0 端口可確(que)保安全的(de)(de)抗震(zhen)連接。

PV Inspector 增強的(de) NIR 靈敏度(du)和獨(du)特的(de)高速模式能夠以超過每秒 1 個(ge)電(dian)池的(de)速率(lv)進行雙重曝(pu)光 EL 檢測(ce)，非常適合在縱梁和電(dian)池分選機中發(fa)現的(de)高通量 PV 檢測(ce)系統(tong)。快(kuai)速的(de)雙曝(pu)光成像允許在不(bu)同(tong)的(de)偏差(cha)水平下對細(xi)胞進行定量測(ce)量。

• QE > 90% 超過 800 nm，針對 NIR 進行了優化 - 近紅外波段非常高的探測器靈敏度
• 5 MHz 和 3 MHz 讀出速度 - 用于高吞吐量電池檢測的快速幀速率
• 雙曝光環模式 - 用于曝光時間切換的獨特采集模式
• 條紋抑制技術 - 將 NIR 中的標準具效應降至更低，優化光學分辨率
• UltraVac - 對持續的真空完整性和保持冷卻和 QE 性能至關重要
• 單增透膜窗口設計 - 近紅外優化減反射涂層
• 熱電冷卻至 -70°C（風冷） - 消除暗電流檢測限的關鍵
• 可鎖定 USB 連接 - 確保安全、抗振連接
• 上電冷卻 - PV Inspector 無需連接 PC 即可保持穩定的熱電冷卻
• 增強型基線夾 - 對于動態測量的定量準確性至關重要。

• 活動像素：1024 x 1024
• 傳感器尺寸：13.3 x 13.3毫米
• 像素大小（寬x高）：13µm x 13µm
• 圖像面積：13.3 x 13.3 mm，填充系數為百分之100
• max讀出速率：5 MHz
• 風冷lowest溫度（環境溫度25°C）：-70ºC
• 幀速率：highest 4.4 fps（全幀）
• 數字化：16位
• 系統窗口類型：單層AR涂層UV級熔融二氧化硅（NIR優化）
• 接口：可鎖定USB 2.0
• 鏡頭支架：C型支架（可根據要求提供其他支架）
• 像素讀出速率：5，3 MHz
• 線性度：優于99%
• 垂直時鐘速度：4.25至64.25µs（軟件可選）
• 雙曝光周期時間：500ms
• 產地：英國