FormFactor 的(de)新型 CM300xi-ULN（超低(di)噪(zao)(zao)聲）是一(yi)種(zhong)革(ge)命性的(de) 300 毫米(mi)晶圓探測(ce)系統，專(zhuan)為高精度閃爍噪(zao)(zao)聲 (1/f)、隨機(ji)電報信(xin)號噪(zao)(zao)聲（RTN 或 RTS）和超靈敏設(she)備的(de)相位噪(zao)(zao)聲測(ce)量而設(she)計。

憑借PureLine 3 技術，ULN 探(tan)測(ce)系統消除了先前探(tan)測(ce)系統中 97% 的環(huan)境(jing)噪聲(sheng)，并為超(chao)低噪聲(sheng)測(ce)量(liang)建立了新的行(xing)業黃金標準。

當與噪(zao)聲(sheng)測試設備（閃爍噪(zao)聲(sheng)、RTN、相(xiang)位噪(zao)聲(sheng)）集成時(shi)，CM300xi-ULN 可提(ti)供高的測試吞(tun)吐量，使用帶(dai)有電動(dong)探針定位器的接觸(chu)智能，通過多 DUT 布局(ju)實現完全自主的直(zhi)流和低頻噪(zao)聲(sheng)探測完全免提(ti) 24/7 操(cao)作。

最后，CM300xi-ULN 消除了(le)低噪聲(sheng) TestCell 優(you)化的(de)(de)復雜性。只需(xu)將其插入即(ji)可(ke)。低噪聲(sheng)現場調查和(he)系統(tong)驗(yan)證降低了(le)設置成(cheng)本(ben)和(he)工具部署時間(jian)。這使(shi)實驗(yan)室工程師(shi)可(ke)以(yi)專注于獲得良(liang)好的(de)(de)設備數據(ju)(ju)，這些數據(ju)(ju)可(ke)用于減少成(cheng)本(ben)高(gao)昂的(de)(de)重新設計的(de)(de)數量，并以(yi)更低的(de)(de)開(kai)發成(cheng)本(ben)加快上市時間(jian)。

PureLine 3 技術

• 在被測設備 (DUT) 周圍提供有效的無噪聲環境
• 實現 -190dB 頻譜噪聲的自動探針臺
• 噪聲降低高達 32 倍 (1kHz)，用于改進 7/5/2 nm 技術節點的器件表征和建模，面向 5G 及更高應用
• 消除了之前探頭系統中 97% 以上的環境噪聲
• 廣泛收集 FormFactor電氣設計知識和測量系統 IP

即插即用

• 集成 TestCell 電源管理的探針臺（TestCell 是一組連接的設備，包括測試軟件、儀器、探針臺、熱系統和相關的測量附件，如電纜和晶圓上探針）
• 消除所有接地回路引起的 TestCell 噪聲
• 低場發射
• 為整個系統、探測器和儀器提供完全管理和過濾的交流電源

自主 24/7運營

• 30 μm 焊盤上的閃爍噪聲熱測試速度提高 4 倍
• ULN 優化的電動直流探頭定位器可在多個溫度下實現完全自主的直流和低頻閃爍噪聲探測
• 完全免提 24/7 操作

低噪音現場調查

• 由 FormFactor 工廠訓練有素的工程師執行，以確定安裝 ULN 系統的位置
• 可以選擇一個好的位置，以限制不需要的環境噪聲降低 TestCell 性能
• 降低設置成本和工具部署時間
• 包括四個關鍵噪聲源的測量：地板振動（1Hz 至 1KHz 范圍內的 µg）、磁場強度（AC 毫高斯）、電力線噪聲和電力線 THD（總諧波失真）

系統驗證服務

• 每個 CM300xi-ULN 探測系統都包含在內
• 展示與標準產品數據表相關的關鍵規格和性能
• 測量關鍵產品規格參數，例如頻譜噪聲密度（dBVrms/√Hz，1Hz 至 20MHz）和交流吸盤噪聲（mV p-p，DC 至5GHz）

ULN 微型腔室

• 探測器內部和直接圍繞 DUT 和晶圓卡盤區域的探測環境
• 確保完整的 EMI / RFI 屏蔽區域
• 為測量光敏晶體管和負溫度 (<= -60°C) 的器件提供無霜操作的黑暗和干燥環境

ULN 功率調節單(dan)元

• 為整個系統 - 探測器和儀器提供完全管理和過濾的交流電源
• 消除探針臺和儀器之間會導致低頻噪聲的接地回路
• 為探針臺、熱冷卻器和控制器、晶圓裝載器、供電附件和所有測試儀器提供清潔、過濾的交流電源
• 提供統一的緊急關閉/緊急電源控制系統，確保整個系統和所有儀器的運行。

ULN 熱過濾模塊

• 過濾外部熱控制系統產生的有害噪音
• 有源模塊在1Mhz以上降低高頻噪聲高達30dB

ULN 單點接地和布線(xian)系統

• 集成所有探頭附件
• 低電阻接地連接
• 用于機械組件的低電阻材料和硬連接方案
• 減少“天線效應”將不需要的射頻噪聲注入測量路徑

用于(yu)精確 PLL 相位(wei)噪(zao)聲的 ULN SMU 濾波模(mo)塊(kuai)

• 新開發的用于源測量單元 (SMU) 的直流濾波器模塊
• 用于對鎖相環電路 (PLL) 和壓控振蕩器 (VCO) 等設備進行高精度相位噪聲測量
• 提供超靜音/清潔的直流電源電壓
• 提供高達 100dB 的衰減（50Hz 至 80Mhz），直流電流為100mA
• 每個SMU濾波器模塊支持一個通道，多個模塊可配置在一起提供多通道清潔電源

高性能探頭

• 超低 fA 級電流和 fF 級電容測量范圍為 -65 °C 至 + 300 °C
• 保證對 fA 和 fF 級別的完全保護測量

輕松手動裝載晶圓

• 夾頭安裝在可手動打開的推出臺上
• 允許完全訪問卡盤和輔助站點
• 用于快速手動裝載和卸載晶圓

3D 手動控制

• 前面的 Virtual Platen Lift 和 XY 旋鈕
• 在 X、Y 和 Z 方向上直觀、精確地移動卡盤
• Platen Lift 能夠以極其快速和直觀的方式執行許多對齊任務，例如設置接觸高度

Velox 探針臺控制軟件

• 以用戶為主的設計大限度地降低培訓成本并提高效率
• Windows 10 兼容性通過硬件實現高性能和操作
• 對準功能——從簡單的晶圓對準和映射到用于自主半導體測試的多種溫度下的高級探針到焊盤對準
• 為沒有經驗的用戶簡化操作：通過工作流程指南和精簡的圖形用戶界面降低培訓成本
• VeloxPro 選項：符合 SEMI E95 標準的測試執行軟件，可實現整個晶圓測試周期的簡化和自動化

測試生(sheng)產力和材料(liao)處理(li)單元

• 盒外測試自動化，可提高夜間/周末操作的測試單元效率
• 可處理 25 個晶圓（200 或 300 毫米）
• SEMI 標準盒式熱插拔功能
• 非常緊湊的全自動解決方案，占地面積小

用于(yu)超低噪聲測量的 300 mm 半(ban)/全自動(dong)探頭系統