Chromatis色(se)散(san)測量系(xi)統(tong)可表征用于飛秒脈沖激光(guang)(guang)器的反射和透(tou)射光(guang)(guang)學(xue)組件(jian)的群延(yan)遲色(se)散(san)(GDD)特性。超快(kuai)脈沖在通過光(guang)(guang)學(xue)系(xi)統(tong)傳播時會變寬(kuan);了解(jie)每個(ge)光(guang)(guang)學(xue)元件(jian)引起(qi)的GDD并(bing)適(shi)當(dang)補償失(shi)真,可以(yi)恢復短脈沖寬(kuan)度。為(wei)了獲得(de)高度準(zhun)確和可靠的結果,Chromatis使用時域(yu)白(bai)光(guang)(guang)干(gan)涉儀(WLI)來測量GDD。該色(se)散(san)測量系(xi)統(tong)包(bao)含軟件(jian),可指導用戶進行(xing)光(guang)(guang)束對準(zhun)(條紋優化)、自動找到(dao)零延(yan)時位(wei)置(zhi)(條紋對比max.)并(bing)快(kuai)速測量色(se)散(san)。
Chromatis色散測量系統具(ju)有光(guang)(guang)纖(xian)耦合的(de)穩定(ding)鹵素光(guang)(guang)源,其有效波長(chang)范圍為500至2100 nm。該(gai)寬帶光(guang)(guang)源可表征為用(yong)(yong)于(yu)鈦(tai)藍(lan)寶石、摻鐿光(guang)(guang)纖(xian)和摻鉺光(guang)(guang)纖(xian)激光(guang)(guang)器的(de)超快光(guang)(guang)學元件。由于(yu)干涉圖是(shi)在時(shi)域(yu)中記錄,因(yin)此可以使用(yong)(yong)單個(ge)光(guang)(guang)電二極(ji)管(guan)探測器(而不是(shi)光(guang)(guang)譜(pu)儀)進行(xing)測量,并(bing)且內(nei)(nei)置的(de)HeNe參考激光(guang)(guang)器可對波長(chang)軸進行(xing)校準(zhun)。該(gai)系統包括一個(ge)波長(chang)為500-1100 nm的(de)硅(gui)光(guang)(guang)電二極(ji)管(guan)。但(dan)是(shi),可以很容易地連(lian)接InGaAs探測器進行(xing)1000-1650 nm波長(chang)范圍內(nei)(nei)的(de)測量。
通常,低色散光(guang)學(xue)元件(jian)僅需要幾百飛秒即可(ke)捕獲(huo)整個(ge)干(gan)涉圖(tu),因此(ci)使用濾(lv)(lv)光(guang)片限制(zhi)入(ru)射(she)光(guang)的(de)波(bo)長范(fan)(fan)圍(wei)常有(you)助(zhu)于(yu)減少所需的(de)掃(sao)描(miao)范(fan)(fan)圍(wei)和(he)總體噪聲。Chromatis色散測量系統具(ju)有(you)六(liu)個(ge)用于(yu)濾(lv)(lv)光(guang)片的(de)插(cha)槽,并且包含(han)覆蓋500-700 nm、600-1000 nm和(he)950-1100 nm波(bo)長范(fan)(fan)圍(wei)的(de)帶通濾(lv)(lv)光(guang)片,用于(yu)與硅光(guang)電(dian)二極(ji)管配合使用。由于(yu)濾(lv)(lv)光(guang)會降低掃(sao)描(miao)的(de)整體強度,因此(ci)會降低干(gan)擾對比度,而(er)光(guang)電(dian)二極(ji)管具(ju)有(you)可(ke)變(bian)的(de)增(zeng)益設置以補償此(ci)衰減。
0°反射
0° - 70°透(tou)射
5° - 70°角度反(fan)射
確認膜層設計規格
光學元件檢查
質量控制測量
色散測量系統(tong)(不包(bao)括(kuo)光(guang)學(xue)和鏡對夾具)
快速表(biao)征光學組件中的色(se)散(san)
寬(kuan)帶光譜(pu)范圍:500-2100 nm
GDD測量(liang)精度:±5 fs2
反射和透射模式
組成:寬帶、低(di)色散(san)分束(shu)器和兩(liang)個延遲臂