角(jiao)度分辨光電(dian)子能譜 (ARPES) 已(yi)成為了解材料電(dian)子結構的(de)技術(shu)。ARPES Lab很大限度地發揮了革命性的(de) DFS30 半球形高(gao)分辨率(lv)分析(xi)儀及其(qi)獲得許可的(de)鏡(jing)頭內偏轉(zhuan)器和靜(jing)電(dian)三(san)維聚(ju)焦調節(jie)器的(de)優勢(shi)。通(tong)過集成的(de)低溫操縱(zong)器和新型(xing)的(de)系統(tong)軟件控(kong)制,可以準確測量高(gao)分辨率(lv)全三(san)維 ARPES 帶狀結構,而無需移動樣(yang)品。
DFS30 偏轉(zhuan)板(ban)和 3D 聚焦調節,可獲得(de)準(zhun)確的 ARPES 結果
明亮的(de)單色器紫外光(guang)源,光(guang)束光(guang)斑(ban)小
經過驗(yan)證(zheng)的 µARPES、tr-ARPES、自旋測量和 HREELS 解決方案
激光源(yuan)、樣品制備和 LEED 的集成(cheng)選項
低溫(wen) LHe 和封閉循環(huan)低溫(wen)樣品(pin)操(cao)縱器
部署在 CREATE 平臺上(shang)
更高的 k 空間分(fen)辨率和更短的測(ce)量時間
通過保持樣品角度固定,避(bi)免與幾何形狀相關的(de)矩陣元素效應
用于 DN40CF 閘閥的墊片套件(jian)
備用件(jian)(jian):環(huan)形加熱元件(jian)(jian)
備用件:系統工作臺水平腳(綠色)
產地:英國
能量分辨(bian)率,DFS30 分析儀:< 1.8 meV(DFS30-8000 型(xing)< 1.0 meV)
靜電 3D 聚(ju)焦調整:是(shi)
角(jiao)度分辨范(fan)圍:± 15° 全錐體
用于全(quan)錐檢測的偏轉模式:是
能(neng)量范圍(wei):0.5 - 1500 eV
角度(du)分辨率(lv),DFS30 分析儀:0.1°
磁(ci)屏蔽,分析(xi)室:< 500 nT(使用雙 mu-liner 時 < 100 nT)
分析室基本壓力: 10-11 mBar 運行壓力
快速氦泵(串聯渦輪泵):是
紫(zi)外能(neng)量分辨率(lv):1 meV(He I)
電動操縱器軸(zhou)(zhou):x、y、z、極軸(zhou)(zhou)、方位(wei)軸(zhou)(zhou)、傾斜(xie)軸(zhou)(zhou)(可(ke)提供(gong) 4 - 6 軸(zhou)(zhou)型號(hao))
機(ji)械手溫度范圍:從 < 3.5 K 到 400 K,可并(bing)行準(zhun)備加熱級
用于穩定溫度的反向(xiang)加熱:是
超穩定(ding)、模塊化(hua)、高壓電子裝(zhuang)置:是
軟件:MISTRAL 系統控制(zhi),PEAK 分析儀控制(zhi)軟件
光學、實(shi)驗、表面(mian)化學分析、分子(zi)結(jie)構、催化劑、新材(cai)料(liao)等研究(jiu)領域(yu)