WALTERCNC測量機HELICHECK NANO

品　　牌：WALTER
型　　號：HELICHECK NANO
技術資料(liao)：
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產品(pin)介紹

對于復(fu)雜(za)幾何(he)形(xing)狀的全自動完整測(ce)量，HELICHECK NANO CNC測(ce)量機在(zai)(zai)微(wei)米和(he)納米范(fan)(fan)圍內(nei)是理(li)想(xiang)的解決方案。得益于顯微(wei)傳感(gan)器(qi)技術，即使是很小的幾何(he)形(xing)狀也可以可靠地記錄和(he)評估-直(zhi)徑為0.1 mm。在(zai)(zai)直(zhi)徑達16 mm的范(fan)(fan)圍內(nei)，HELICHECK NANO充分展(zhan)示了其優勢。憑借經(jing)認證的精(jing)(jing)度，它(ta)為確(que)保現代工(gong)具(ju)生(sheng)產的生(sheng)產率、質量和(he)精(jing)(jing)度設定(ding)了標(biao)準(zhun)。在(zai)(zai)自動刀(dao)具(ju)加工(gong)中，它(ta)承擔著“質量控制”的關(guan)鍵功能，并在(zai)(zai)加工(gong)過(guo)程中集(ji)成公差補償。

性能(neng)特點

實心花崗巖基層

堅固的花(hua)崗巖底座(zuo)由(you)于其重量(liang)，為精度(du)和(he)準(zhun)確性(xing)提供(gong)了基礎。這(zhe)種花(hua)崗巖底座(zuo)提供(gong)振(zhen)動阻尼和(he)熱穩(wen)定性(xing)。這(zhe)些(xie)是HELICHECK NANO獲(huo)得高(gao)測量(liang)精度(du)和(he)可靠測量(liang)結果(guo)的先決條件(jian)。

E1值

在我們的(de)HELICHECK NANO測量機上，E1值(zhi)標準(zhun)為（1.2+L/300）µm。

ISO 50主軸

具有自動夾(jia)緊機構(gou)的(de)高(gao)精度ISO 50主軸確保了HELICHECK NANO的(de)準(zhun)確和可(ke)重復測(ce)量。

準確性

根(gen)據(ju)VDI/VDE 2617，測(ce)(ce)量機的精度(du)通過在認證(zheng)校準(zhun)標準(zhun)上以(yi)不同間隔進(jin)(jin)行(xing)的各種測(ce)(ce)量進(jin)(jin)行(xing)評估。WALTER使用經認證(zheng)的儀(yi)表或可選的玻璃(li)刻(ke)度(du)，以(yi)提(ti)高精度(du)。根(gen)據(ju)標準(zhun)，至少需要三(san)次(ci)測(ce)(ce)量。WALTER執行(xing)十次(ci)測(ce)(ce)量。Physikalisch Technische Bundesanstalt的校準(zhun)證(zheng)書證(zheng)明了玻璃(li)秤的高精度(du)。