標(biao)準(zhun)行(xing)(xing)程(cheng)(cheng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)探(tan)針(zhen)：始終如(ru)一(yi)地證(zheng)明是可(ke)靠(kao)的ICT/FCT測(ce)(ce)(ce)試(shi)探(tan)針(zhen)。根(gen)據測(ce)(ce)(ce)試(shi)夾具(ju)(ju)的工作(zuo)行(xing)(xing)程(cheng)(cheng)或(huo)待測(ce)(ce)(ce)試(shi)的部件/測(ce)(ce)(ce)試(shi)點(dian)，需要各種安裝高度。這些可(ke)以通(tong)過選擇測(ce)(ce)(ce)試(shi)探(tan)針(zhen)和容器(qi)的組(zu)合(he)來實現。因此，可(ke)以實現具(ju)(ju)有(you)(you)標(biao)稱彈簧力的最(zui)合(he)適工作(zuo)行(xing)(xing)程(cheng)(cheng)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)探(tan)針(zhen)有(you)(you)標(biao)準(zhun)的L（+ 2.0 mm）和E（+ 5.0 mm）版本，以及具(ju)(ju)有(you)(you)不同套環(huan)高度的插座。

長行程測試探針：用于雙(shuang)級測試夾具中的ICT/FCT組合測試。

無線插座：用于(yu)通過傳輸(shu)PCB上的(de)彈簧柱(zhu)塞(sai)傳輸(shu)信號(hao)。因此，不需要電纜。

短/強大的測試(shi)探針：由于其(qi)堅固，緊湊的設計而(er)(er)脫穎而(er)(er)出(chu)。這使得(de)它們適用(yong)于可用(yong)空間有限的苛刻ICT/FCT應用(yong)，以及更大的網(wang)格尺寸。

在(zai)線測(ce)試（ICT）期(qi)間，測(ce)量PCB上的(de)(de)所(suo)有(you)組件(jian)。在(zai)這樣做時(shi)，檢測(ce)到有(you)缺陷的(de)(de)部(bu)件(jian)并(bing)(bing)且可以(yi)相應地更換。功(gong)能測(ce)試（FCT）檢查PCB的(de)(de)整個預期(qi)功(gong)能。根據預期(qi)的(de)(de)使用(yong)區域，復制環境并(bing)(bing)檢查PCB的(de)(de)電性(xing)能。為了(le)很好地滿足接觸(chu)要求，可以(yi)使用(yong)各種測(ce)試探(tan)針。它們在(zai)安裝高度(du)，網格尺(chi)寸（探(tan)針之間可能的(de)(de)距離(li)），樣式和連(lian)接類型方面有(you)所(suo)不同。電氣連(lian)接可通過(guo)焊杯或繞線，帶或不帶電纜(lan)（無線）來實現。