SPDR使用(yong)特(te)(te)定(ding)的諧振(zhen)模(mo)式(shi)。該模(mo)式(shi)具有取(qu)決于諧振(zhen)器(qi)尺寸的特(te)(te)定(ding)諧振(zhen)頻率(lv)，并且(qie)在(zai)一定(ding)程(cheng)度上(shang)也取(qu)決于測量樣(yang)品的電(dian)學性質。因此(ci)，每個諧振(zhen)器(qi)被設計用(yong)于特(te)(te)定(ding)的額定(ding)頻率(lv)，并且(qie)實際測量以(yi)接近標稱頻率(lv)的頻率(lv)進行。SPDR的基本線路(lu)的標稱頻率(lv)為：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz。在(zai)1.1 GHz和(he)15 GHz之(zhi)間的其(qi)他頻率(lv)的諧振(zhen)器(qi)可以(yi)在(zai)特(te)(te)殊(shu)要求(qiu)下制(zhi)造(zao)。

測量空(kong)諧振(zhen)器和諧振(zhen)器的(de)(de)(de)諧振(zhen)頻率和Q因子。提供(gong)專用(yong)(yong)軟(ruan)件用(yong)(yong)于(yu)介(jie)電(dian)常數(shu)和介(jie)電(dian)損耗角正切測定。可以使(shi)用(yong)(yong)Agilent Technologies配備85071E材料測量軟(ruan)件（選件300）的(de)(de)(de)PNA / ENA系(xi)列網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀之一，用(yong)(yong)戶只需(xu)將(jiang)QWED的(de)(de)(de)專用(yong)(yong)應用(yong)(yong)程序上(shang)傳到網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀中，并直接(jie)在(zai)其顯示(shi)屏(ping)上(shang)獲得結(jie)果。使(shi)用(yong)(yong)不同網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀的(de)(de)(de)用(yong)(yong)戶需(xu)要在(zai)標(biao)準PC計算機或網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀（如果配備Windows操作(zuo)系(xi)統）上(shang)安(an)裝介(jie)質特性計算軟(ruan)件。

薄(bo)層電阻測量范圍：4kΩ÷10MΩ

產地：波蘭

標稱(cheng)頻率：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz

表面材質：鋁

結果顯示：顯示屏

薄層電阻測量范圍：4kΩ...10MΩ

薄層電阻測量(liang)次數：2

薄膜襯底：半絕緣

測量數值：層(ceng)狀(zhuang)介電(dian)材料的復(fu)介電(dian)常數

可定制：是

溫度范圍：-270℃至110℃

SPDR用(yong)于(yu)測量包括LTCC襯底在內(nei)的(de)(de)(de)層狀(zhuang)電(dian)(dian)(dian)(dian)介質材料(liao)的(de)(de)(de)復介電(dian)(dian)(dian)(dian)常數，也用(yong)于(yu)沉(chen)積在低損耗(hao)介質襯底上(shang)的(de)(de)(de)薄(bo)鐵電(dian)(dian)(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)。此外，SPDR可用(yong)于(yu)測量各種(zhong)導電(dian)(dian)(dian)(dian)材料(liao)（如(ru)商用(yong)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻層，薄(bo)導電(dian)(dian)(dian)(dian)聚(ju)合物膜(mo)或高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻率半導體）的(de)(de)(de)表面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻和電(dian)(dian)(dian)(dian)導率。這(zhe)種(zhong)測量僅適用(yong)于(yu)Rs> 5kΩ/平方的(de)(de)(de)大(da)表面電(dian)(dian)(dian)(dian)阻采樣。樣品的(de)(de)(de)小尺(chi)寸取決(jue)于(yu)諧振(zhen)器的(de)(de)(de)工作頻率。SPDR適合在-270℃至110℃的(de)(de)(de)溫度下工作。